2025-07-25
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Burn-in-Tests sind die unbesungenen Helden der PCB-Zuverlässigkeit, die latente Defekte aussortieren, bevor Produkte die Kunden erreichen. Indem man PCBs erhöhten Temperaturen und elektrischer Belastung aussetzt, können Hersteller schwache Komponenten, fehlerhafte Lötstellen und Materialinkonsistenzen identifizieren, die andernfalls zu Ausfällen im Feld führen würden. Aber der Erfolg hängt von einer entscheidenden Variablen ab: der Temperatur. Wählt man sie zu niedrig, bleiben Defekte verborgen; zu hoch, und man riskiert, gute Komponenten zu beschädigen. Hier erfahren Sie, wie Sie die optimale Burn-in-Temperatur für Ihre Leiterplatte bestimmen, egal ob sie für ein Smartphone, einen Industrieroboter oder ein medizinisches Gerät bestimmt ist.
Wichtigste Erkenntnisse
  a. Burn-in-Temperaturen sollten die maximale Betriebstemperatur der Leiterplatte um 20–30 °C übersteigen, um die Defekterkennung zu beschleunigen, ohne die Komponenten zu beschädigen.
  b. Materialgrenzen (z. B. die Glasübergangstemperatur von FR-4, Tg) bestimmen die Obergrenzen: Typische Leiterplatten erreichen maximal 125 °C, während Hochtemperaturdesigns (PTFE, Keramik) 150–200 °C tolerieren.
  c. Industriestandards (AEC-Q100 für die Automobilindustrie, IPC-9701 für den allgemeinen Gebrauch) leiten die Temperaturbereiche: 85 °C für Unterhaltungselektronik, 125 °C für die Automobilindustrie und 130 °C für die Luft- und Raumfahrt.
  d. Die Testdauer korreliert mit der Temperatur: Höhere Temperaturen (125 °C) erfordern 24–48 Stunden, während moderate Bereiche (85 °C) 48–72 Stunden benötigen, um Defekte aufzudecken.
Was ist ein Burn-in-Test und warum er wichtig ist
Burn-in-Tests sind ein Stresstestverfahren, bei dem Leiterplatten erhöhten Temperaturen, Spannungen und manchmal Vibrationen ausgesetzt werden, um das Versagen schwacher Komponenten zu beschleunigen. Ziel ist es, „Säuglingssterblichkeits“-Defekte zu identifizieren – Probleme, die zu frühen Ausfällen (innerhalb der ersten 10 % der Lebensdauer eines Produkts) führen würden, aber durch Standardqualitätskontrollen nicht erkannt werden.
Diese Defekte umfassen:
  a. Kalte Lötstellen: Schwache Verbindungen, die unter thermischer Belastung reißen.
  b. Komponentendegradation: Elektrolytkondensatoren mit getrockneten Elektrolyten oder Halbleiter mit Mikrorissen.
  c. Materialinkonsistenzen: Delamination in Mehrschicht-Leiterplatten oder Spurenkorrosion durch Flussmittelrückstände.
Ohne Burn-in führen solche Defekte zu kostspieligen Garantieansprüchen und Reputationsschäden. Eine Studie der Electronics Industry Association (EIA) ergab, dass Burn-in die Ausfallraten im Feld in hochzuverlässigen Anwendungen wie Automobil- und Medizinprodukten um 60–80 % reduziert.
Die Wissenschaft der Temperatur beim Burn-in-Test
Die Temperatur ist die kritischste Variable beim Burn-in. Höhere Temperaturen beschleunigen chemische Reaktionen und physikalische Belastungen, wodurch schwache Komponenten schneller ausfallen. Es gibt jedoch ein empfindliches Gleichgewicht:
  a. Zu niedrig: Belastet die Komponenten nicht ausreichend, wodurch Defekte unentdeckt bleiben.
  b. Zu hoch: Beschädigt gesunde Komponenten (z. B. Schmelzen von Lot, Delaminieren von Substraten) oder verzieht Leiterplatten, wodurch neue Ausfälle entstehen.
Die optimale Temperatur hängt von drei Faktoren ab:
  1. Materialgrenzen der Leiterplatte: Die Glasübergangstemperatur (Tg) des Substrats (z. B. FR-4 Tg = 130–170 °C) bestimmt die maximal sichere Temperatur.
  2. Einsatzumgebung: Burn-in sollte die maximale Betriebstemperatur der Leiterplatte um 20–30 °C übersteigen, um die Alterung über einen längeren Zeitraum zu simulieren.
  3. Industriestandards: Richtlinien wie AEC-Q100 (Automobil) und IPC-9701 (allgemein) legen Temperaturbereiche für die Zuverlässigkeit fest.
Wie Leiterplattenmaterialien die Temperaturgrenzen beeinflussen
Leiterplattensubstrate und -komponenten haben strenge thermische Schwellenwerte. Das Überschreiten dieser Werte verursacht irreversible Schäden:
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 Material/Komponente 
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 Thermische Grenze 
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 Risiko des Überschreitens der Grenze 
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 FR-4-Substrat (Standard) 
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 Tg = 130–150 °C 
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 Delamination, Verformung oder reduzierte mechanische Festigkeit. 
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 High-Tg FR-4 
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 Tg = 170–200 °C 
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 Gleich wie Standard-FR-4, jedoch bei höheren Temperaturen. 
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 PTFE/Hochfrequenz-Laminate 
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 Tg = 260 °C+ 
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 Minimales Risiko, aber Spurenoxidation kann über 200 °C auftreten. 
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 Elektrolytkondensatoren 
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 85–125 °C (Nenntemperatur) 
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 Elektrolyttrocknung, Kapazitätsverlust oder Explosion. 
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 Lötstellen (bleifrei) 
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 260 °C (Reflow-Temperatur) 
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 Lotermüdung oder Rissbildung in der Verbindung unter thermischer Belastung. 
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Wichtige Regel: Die Burn-in-Temperatur sollte 10–20 °C unter der niedrigsten Material-Tg liegen, um eine Beschädigung gesunder Leiterplatten zu vermeiden. Für Standard-FR-4 (Tg = 150 °C) begrenzt dies das Burn-in auf 130 °C.
Optimale Temperaturbereiche nach Anwendung
Die Anwendungsfälle für Leiterplatten sind sehr unterschiedlich, daher müssen die Burn-in-Temperaturen mit ihren Betriebsumgebungen übereinstimmen. So passen Sie die Tests an:
1. Unterhaltungselektronik (Smartphones, Fernseher)
    a. Betriebstemperaturbereich: 0–70 °C (Umgebung).
    b. Optimale Burn-in-Temperatur: 85–105 °C.
    c. Begründung: Überschreitet die maximale Betriebstemperatur um 15–35 °C und belastet die Komponenten, ohne FR-4 (Tg = 130 °C) oder Kondensatoren für den Verbraucherbereich (Nennwert 85 °C) zu beschädigen.
    d. Dauer: 24–48 Stunden. Längere Zeiten (72+ Stunden) bergen das Risiko, dass kostengünstige Elektrolytkondensatoren austrocknen.
    e. Standard: JEDEC JESD22-A108 (empfiehlt 85 °C/85 % relative Luftfeuchtigkeit für 48 Stunden).
2. Industrieelektronik (Motorsteuerungen, Sensoren)
    a. Betriebstemperaturbereich: -20–105 °C (Fabrikhallen, Gehäuse im Freien).
    b. Optimale Burn-in-Temperatur: 105–125 °C.
    c. Begründung: Testet die Widerstandsfähigkeit gegenüber extremen Fabrikbedingungen. Verwendet High-Tg FR-4 (Tg = 170 °C), um 125 °C ohne Delamination standzuhalten.
    d. Dauer: 48–72 Stunden. Industriekomponenten (z. B. Leistungswiderstände) benötigen eine längere Belastung, um latente Defekte aufzudecken.
    c. Standard: IPC-9701 (Klasse 2, empfiehlt 125 °C für 48 Stunden).
3. Automobilelektronik (ADAS, Steuergeräte)
    a. Betriebstemperaturbereich: -40–125 °C (Motorräume, unter der Motorhaube).
    b. Optimale Burn-in-Temperatur: 130–150 °C.
    c. Begründung: Simuliert über 10 Jahre Hitze unter der Motorhaube. Verwendet High-Tg FR-4 (Tg = 170 °C) oder Metallkern-Leiterplatten (MCPCBs), um 150 °C zu bewältigen.
    d. Dauer: 48–96 Stunden. Automobilsicherheitssysteme (z. B. Airbag-Steuerungen) erfordern strenge Tests, um ISO 26262 zu erfüllen.
    e. Standard: AEC-Q100 (Grade 2, spezifiziert 125 °C für über 1000 Zyklen; Burn-in stimmt damit überein).
4. Medizinische Geräte (Implantate, MRT-Geräte)
    a. Betriebstemperaturbereich: 10–40 °C (Körperkontakt) oder -20–60 °C (Bildgebungssysteme).
    b. Optimale Burn-in-Temperatur: 60–85 °C (Implantate) oder 85–105 °C (Bildgebung).
    c. Begründung: Implantate verwenden biokompatible Materialien (z. B. PEEK-Substrate), die empfindlich auf hohe Hitze reagieren; Bildgebungssysteme benötigen höhere Temperaturen, um die Stromversorgung zu belasten.
    d. Dauer: 72–120 Stunden. Längere Tests gewährleisten die Zuverlässigkeit in lebenskritischen Anwendungen.
    e. Standard: ISO 13485 (erfordert die Validierung der Burn-in-Temperaturen im Vergleich zur klinischen Anwendung).
5. Luft- und Raumfahrt & Verteidigung (Radar, Avionik)
    a. Betriebstemperaturbereich: -55–125 °C (extreme Umgebungen).
    b. Optimale Burn-in-Temperatur: 125–175 °C.
    c. Begründung: Verwendet Hochleistungssubstrate (z. B. PTFE, Tg = 260 °C), um 175 °C standzuhalten. Testet die Beständigkeit gegen strahlungsinduzierte Alterung.
    d. Dauer: 96–168 Stunden (1 Woche). Entscheidend für Systeme mit einer Lebensdauer von über 20 Jahren.
    e. Standard: MIL-STD-883H (Methode 1015, spezifiziert 125 °C für 168 Stunden für Geräte der Klasse H).
Burn-in-Temperatur vs. Dauer: Finden des Sweet Spots
Temperatur und Dauer arbeiten zusammen, um Defekte aufzudecken. Höhere Temperaturen verkürzen die benötigte Zeit, aber das Gleichgewicht ist entscheidend:
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 Burn-in-Temperatur 
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 Typische Dauer 
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 Erkannte Defekte 
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 Risiko der Überlastung 
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 85 °C 
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 48–72 Stunden 
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 Schwache Kondensatoren, kalte Lötstellen 
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 Gering (sicher für FR-4) 
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 105 °C 
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 24–48 Stunden 
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 Delamination in minderwertigen Leiterplatten, Halbleiterlecks 
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 Moderat (FR-4 Tg überwachen) 
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 125 °C 
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 24–36 Stunden 
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 Hochohmige Leiterbahnen, Probleme mit dem Kondensatorelektrolyten 
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 Hoch (High-Tg-Materialien verwenden) 
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 150 °C+ 
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 12–24 Stunden 
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 Erhebliche Lötstellenermüdung, Substratverformung 
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 Sehr hoch (nur für PTFE/Keramik-Leiterplatten) 
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Häufige Burn-in-Fehler, die es zu vermeiden gilt
Selbst mit Richtlinien sind Fehler bei der Temperaturauswahl üblich:
1. Ignorieren der Komponentenbewertungen
Eine Leiterplatte mit Kondensatoren mit einer Nennleistung von 85 °C kann kein Burn-in bei 105 °C sicher durchlaufen, selbst wenn das Substrat (FR-4) dies zulässt. Überprüfen Sie immer die Datenblätter der Komponenten auf maximale Betriebstemperaturen.
2. Gleichmäßige Temperatur für alle Schichten
In Mehrschicht-Leiterplatten speichern die inneren Schichten Wärme und erreichen 5–10 °C höhere Temperaturen als die Oberflächentemperaturen. Verwenden Sie thermische Modellierung (z. B. ANSYS), um sicherzustellen, dass die inneren Schichten unterhalb von Tg bleiben.
3. Überspringen von Tests nach dem Burn-in
Burn-in identifiziert Ausfälle, aber Tests nach dem Test (elektrische Durchgängigkeit, Signalintegritätsprüfungen) bestätigen, dass gesunde Leiterplatten nicht beschädigt wurden. Ein Burn-in bei 125 °C kann Lötstellen schwächen, ohne sofort einen Ausfall zu verursachen – Tests nach dem Test erfassen dies.
4. Übersehen der Luftfeuchtigkeit
Für Leiterplatten in feuchten Umgebungen (z. B. Außensensoren) beschleunigt die Kombination von 85 °C mit 85 % relativer Luftfeuchtigkeit (gemäß JEDEC JESD22-A110) die Korrosion und deckt Leiterbahnprobleme auf, die ein Standard-Trocken-Burn-in verfehlt.
So validieren Sie die Burn-in-Temperatur
Validieren Sie vor der vollständigen Produktion Ihre gewählte Temperatur mit einer kleinen Charge (10–50 Leiterplatten):
    1. Vortest: Führen Sie elektrische Tests (Durchgängigkeit, Impedanz) und Sichtprüfungen durch.
    2. Burn-in: Führen Sie bei der Zieltemperatur für die geplante Dauer aus.
    3. Nachtest: Wiederholen Sie die elektrischen/visuellen Prüfungen. Vergleichen Sie die Ausfallraten mit historischen Daten.
    4. Anpassen: Wenn >5 % der Leiterplatten nach dem Test ausfallen, senken Sie die Temperatur um 10 °C. Wenn <1 % ausfällt, erwägen Sie eine Erhöhung um 5–10 °C, um mehr Defekte zu erfassen.
FAQs
F: Kann Burn-in eine gesunde Leiterplatte beschädigen?
A: Ja, wenn die Temperatur die Materialgrenzen überschreitet. Beispielsweise führt ein Burn-in bei 150 °C auf Standard-FR-4 (Tg = 130 °C) dazu, dass 30 % der Leiterplatten delaminieren, gemäß IPC-Tests. Bleiben Sie immer unterhalb von Tg.
F: Gibt es eine „Einheitsgröße“ für die Temperatur?
A: Nein. Eine Smartphone-Leiterplatte (85 °C Burn-in) und eine Luft- und Raumfahrt-Leiterplatte (150 °C) haben sehr unterschiedliche Anforderungen. Richten Sie sich nach der Endanwendung und den Materialgrenzen.
F: Was ist, wenn meine Leiterplatte gemischte Komponenten hat (einige mit 85 °C, einige mit 125 °C Nennleistung)?
A: Verwenden Sie die niedrigste Komponentenbewertung als maximale Temperatur. Wenn beispielsweise 85 °C-Kondensatoren mit 125 °C-Halbleitern gepaart sind, begrenzen Sie das Burn-in auf 85 °C.
F: Ersetzt Burn-in andere Zuverlässigkeitstests?
A: Nein. Es ergänzt Temperaturwechsel-, Vibrations- und Feuchtigkeitstests. Burn-in erfasst die Säuglingssterblichkeit; andere Tests validieren die langfristige Belastbarkeit.
Fazit
Optimale Burn-in-Temperaturen gleichen Belastung und Sicherheit aus und stellen sicher, dass schwache Komponenten während des Tests ausfallen – nicht im Feld. Durch die Abstimmung der Temperatur auf Leiterplattenmaterialien, Endanwendungsumgebungen und Industriestandards können Hersteller die Ausfälle im Feld drastisch reduzieren. Ob Sie ein Verbrauchergerät bei 85 °C oder ein Luft- und Raumfahrtsystem bei 150 °C testen, das Ziel bleibt dasselbe: Leiterplatten zu liefern, die über ihre gesamte Lebensdauer zuverlässig funktionieren.
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